PCI-SIG 6.0規範引入了PAM4信號（hào），旨在在保持NRZ信（xìn）號向後兼容的同時實現64GT/s。多級（PAM4）方（fāng）法（fǎ）為采用者和驗證團隊帶來了新（xīn）的（de）信號完整（zhěng）性挑戰。Tektronix的PCI Express 6.0軟件通過自動化測（cè）試來減少（shǎo）這種新複雜性，確保測量的準確性和可重複性。
Tektronix的PCE6 (Gen6)選項、PCE5 (Gen5)選項、PCE4 (Gen4)選項和PCE3 (Gen 1/2/3)選項應用程（chéng）序（xù）為PCI Express發射機和參考時鍾符合性測試以及根據PCI-SIG®規範進行PCI Express設備（bèi）調試和驗證提供了全（quán）麵的解（jiě）決方（fāng）案。
特點和優勢
支持PCI Express Gen6基礎（矽片（piàn））發射機測試
支持Tektronix DPO/MSO70000係列示波器（qì）在基礎（矽片（piàn））和CEM（係統）級別對（duì）PCI Express Gen 1/2/3/4/5發射機進行驗證和（hé）符合性測試
使用SkyWorks時鍾抖動工具和DPOJET對Gen1到Gen5的參考時鍾抖動和信號完整性進行測（cè）量（liàng）
使用DPOJET/PAMJET對（duì）64GT/s（PAM4）信號完（wán）整性進行測量
使用AC Fit方法進行PCIe Gen6發射機均衡預設測試
自動（dòng）化配（pèi）置示波器，包括垂直和（hé）水平（píng）刻度，以進行準確和符合規範的測量
自動獲（huò）取和波形管理，簡化了對支持的數據速率、發射機符合性模式和通（tōng）道寬度的測試（shì）
自動控製（zhì）設備以遍曆數據速（sù）率和符合性模式
自動化PCIe3測試解決方案的射頻開關，支持多達16通道
支持NVMe和CXL物理層測試
去嵌斷路通道、測（cè）試夾具和電纜的（de）影響，以在感興趣的測試點處進行測量（需要SDLA 串行數（shù）據鏈路分析選項）
測試選擇：選擇要執（zhí）行分析的規範，並選擇單個或多個測試以進（jìn）行針對失敗測試的符合性分析
SigTest集成：使用命令（lìng）行界麵（miàn）執行已獲取波形的分析，提（tí）供使用PCI-SIG®推薦的（de）分析工具測試係統（tǒng）的能力
使用多個sigtest實例（lì）並行分析多個波形
使用SigTest Phoenix進行Gen5 AC Fit發射機均衡預設表征（zhēng）
報告：將所有測試結果匯編成可定製的報告，帶（dài）有（yǒu）通（tōng）過/失（shī）敗結果，便於分析和記錄保存
報告（gào）頂部（bù）的（de）匯總表便於快速查看規範性測（cè）量結果
模式匹配：驗證發射機在獲取信號進行（háng）符合（hé）性分析（xī）之前發送的符合性模式是否正（zhèng）確。此功能支持高達Gen3數據速率
PHY級協議（yì）解碼：解碼（mǎ）並顯示（shì）協議感（gǎn）知視圖中的PCIe數據。具有波形的時間相關事件表視圖（tú）允許快速搜（sōu）索感（gǎn）興趣的事件（jiàn）
多通（tōng）道測試：在多個PCI Express數據通（tōng）道上執行分析，以加快多通道係統中（zhōng）的發射機分析
符合性和調試：提供（gòng）基於DPOJET的工具（jù）包（bāo），以（yǐ）便（biàn）在DUT（設備在測（cè）試）未通過符合性測試時快速切（qiē）換到調試和驗證模式
分（fèn）析和調試工具：Tektronix提供（gòng）了廣泛的符合性、調試和驗證工（gōng）具，適用於發（fā）射機（Tx）、接收機（Rx）和協議測試
全麵的程序接口：支持使用標準可編程儀器命令（lìng）（SCPI）與TekExpress應（yīng）用程序通信，實現程序（xù）和腳本自動化（huà）調用與PCIe相（xiàng）關的TekExpress功能
應用領域（yù）
Tektronix為在基礎（矽片）和係統級別上驗證和符合PCI Express發（fā）射機提供了全麵的解決方案，包括支持CEM、U.2和M.2接口（kǒu）。使用PCI Express物理層的（de）多種協議（包括NVMe和CXL）可以利用TekExpress軟件解決方案下的發射機和參考時（shí）鍾自動化功能。
Tektronix的PCE3 (Gen1/2/3)選項、PCE4 (Gen4)選項和PCE5 (Gen5)選項包括以下的符（fú）合性和調試測試以及電氣驗證：
• Root Complex Tx抖動和（hé）電壓
• Endpoint Tx抖動和（hé）電壓
• 開關
• 橋接器
• 插入卡
• 係統板
• 嵌入式係統（tǒng）
• Express模塊
在PCIe Gen 1和Gen 2中，偏（piān）斜測量需要特別注意一致性碼型（如K28.5，D21.5）並確保每條lane的（de）測試以相同的碼型起點進行。以（yǐ）下是詳細的測試步驟：
Tektronix PCE6 (Gen6)選項包括以（yǐ）下信號質量測量：
• 單位間隔（gé）（Unit Interval）
• V-TX-DIFF-PP
• V-TX-EIEOS-FS
• T-TX-UTJ
• T-TX-UDJDD
• T-TX-RJ
• RLM-TX
• SNDR
• PS21 TX
• V-TX-BOOST
• T-TX-UPW-TJ
• T-TX-UPW-DJDD
• V-TX-AC-CM-PP
• V-TX-AC-CM-PP-Filtered
PCIe Gen6對於每個預設值有兩個Preshoot值和一個（gè）de-embeded值，這使得預（yù）設測試算法更加（jiā）複雜。Tektronix PCE6還配備了（le）Tektronix預設測試工（gōng）具，可以由（yóu）TekExpress或手動使（shǐ）用。
TekExpress符合（hé）性自動化現已可用於PCIe Gen 1-3 CEM和Gen 3基礎測試通過PCE3選項，Gen4 CEM和Gen4基礎測（cè）試通過PCE4選項（xiàng），以及Gen5 CEM和Gen5基礎測（cè）試通過PCE5選項。
PCE3、PCE4和PCE5選項應用（yòng）程序與Tektronix DPO/MSO70000係（xì）列（liè）示波（bō）器兼容，設計用於應對下一代串行數據標準（如PCI Express）的挑戰。這些示波器提供了領先的（de）垂直噪聲性能和平坦的頻率響應。Tektronix DPO/MSO70000係列示波器已獲得PCI-SIG的符合性測試批準（zhǔn）。
符合性測試
PCI-SIG提供了（le）用於測試PCI Express係統（tǒng）和附加卡的符合性測（cè）試。為了將PCI Express係統或設備列入集成列表，該係統或（huò）設備必須通過互操作性和符（fú）合性（xìng）測試。對於電（diàn）氣（qì）驗證，PCI-SIG使用SigTest後捕獲分析（xī）軟件，該軟件使用連（lián）接到PCI-SIG的CBB（主板+插（chā）接板）測試夾具的示波器捕（bǔ）獲的波形來分析附加卡，或（huò）使（shǐ）用CLB測試夾具分析（xī）係統。手動捕獲所需的波形並進行分析是（shì）繁瑣且耗時的，容易出錯。
Tektronix的PCE3、PCE4和PCE5選項中的TekExpress自動化用於PCI Express發射機符合性測試，減少了測試的工作量，並通過多項獨特和創新（xīn）功能加快了符合性測試（shì）的（de）速度。這些選項最終允許測試支持多種技術的設備，如支（zhī）持NVMe的附加卡設備，或通過U.2或（huò）M.2連接器進行測試（shì）。
Tektronix的PCE3、PCE4和PCE5選項中（zhōng）的TekExpress自動化軟件（jiàn）可以通（tōng）過選擇特定型號的Tektronix AFG或AWG、GRL PCIE 3/4 控製器或NI USB6501 CBB控製器來控製DUT，自動循環通過符（fú）合性測試所需的各種速度、去加重和預設值。這消除了在CBB和CLB測試夾具上使用手動按鈕（niǔ）控製DUT時容易出錯的（de）問（wèn）題。
一個完整的測試運行需（xū）要在不（bú）同的DUT設置下在每個通道上獲取多個（gè）波形。需要分析的波形集會隨（suí）著通道數量的（de）增加而（ér）增加。管理和存儲用於分析和未來參考的數據是任何符合性解決方案的重要標準。PCE3、PCE4和PCE5選項中的TekExpress自動化軟件除了調整（zhěng）水平和垂直設置以及采集深度以獲得最佳信號（hào）質量進行準確分析外，還提（tí）供（gòng）了簡化多重獲取波形管理的功能。
該功能利用PCI-SIG的SigTest EXE分析已獲取的波形，使（shǐ）得分析結果與PCI-SIG工作組用於符合性（xìng）測試的SigTest後捕獲分析軟件一致。
PCE3、PCE4和PCE5選項中（zhōng）的（de）TekExpress自動化軟件在選擇數據（jù）速率、電壓擺動、預設值（zhí）和（hé）要運行（háng）的測試方麵提供了靈（líng）活性。它還提供了去嵌通道和測試夾（jiá）具（jù）效應的選項，能夠根（gēn）據規範要求提供引腳信號的準確表示。
TekExpress使用Tektronix下一代PAM4工（gōng）具PAMJET進行（háng）測量。在分析過程中，TekExpress會根據（jù）規範自動設（shè）置該工具（jù），捕獲（huò）結果並將其報（bào）告給用戶。PAMJET還允許專家用戶配置（zhì）PAMJET工具，以在非規範設置下測試DUT進行調試。
PAMJET引入（rù）了信號與噪聲失真比（SNDR）測量，其測量（liàng）方法已更新，以（yǐ）支持最新的PCI Express 6.0基礎規範。集成了儀器噪聲補償功能以提高測量的準確性。
所有分析（xī）結果都編譯成PDF/HTML/CSV格式的報（bào）告，其中可以包（bāo）括通過/失敗摘要、眼圖、設置配置（zhì）和（hé）用戶評論。報告的內容可以自定義（yì），以包括感興趣的信息，如附加結果（guǒ）和基於測試名稱/通過失（shī）敗/均衡（héng）化的自定義報告生成。
使用TekExpress進行參考時鍾測（cè）試
由（yóu）於PCI-SIG標準（zhǔn）支持的最高數據速率驅動的抖動限製減少，參考時鍾測試已經從可選變為許多設計中的必需。此外，由於在Gen5係統中取消了雙端口（數據和時鍾發射機測試），因（yīn）此需要在參考時鍾上進（jìn）行符合性測試。TekExpress PCIe解決方案現已（yǐ）集成了SkyWorks時鍾抖動工具，使參考時鍾（zhōng）測試自動化且無麻煩。一旦用戶（hù）將（jiāng）參考時鍾輸出連接（jiē）到（dào）示波器，TekExpress PCIe軟件將獲取信號，調用SkyWorks時（shí）鍾抖動工具，並提供（gòng）Gen1至Gen5的參考時鍾測試結果。Skyworks時鍾（zhōng）抖動工具支持儀器噪聲補償。
開關矩陣自動化
開（kāi）關矩陣應（yīng）用程（chéng）序允許使用射頻開關配置和設置自動化的多通道測試。該解決方案允許您將多個發射機信號映射到指定的輸入，並將（jiāng）選定（dìng）的輸入轉發到另一個繼電器或示波器通道。選項SWX-PCE支持使用（yòng）Keithley和Gigatronics開（kāi）關分別（bié）進行最多x12和x16通道（dào）的測試，增強了吞（tūn）吐量（liàng）和自動化（huà）測試速（sù）度。
如果DUT或Add-in Card的任何部分未（wèi）通過符合性（xìng）測試，應（yīng）用程（chéng）序包括一個基於DPOJET的調試和分析工（gōng）具包，專門用於PCI Express接口的調試和驗證。
PCIe Gen3和（hé）Gen4引入的新抖（dǒu）動測量提供了針對數據依賴（lài）性抖動（dòng）（DDJ）和非相關確定性抖動（UDJDD）的獨立限製。分離（lí）DDJ（可以通過發射機和接收機均衡進行補償）和UDJDD（可能（néng）由串擾和電源噪聲（shēng）等效應引起）非常重要。
除了上述抖動測量外（wài），脈衝寬度抖動（PWJ）是一個新測量，用於解決8到16 Gb/s的信道損耗（hào）增加問題。PWJ測量的目的是確保孤立比（bǐ）特符合最小脈衝寬度要求。所有新抖動測量都實現了基於基本規範的Q標度外推法。Tektronix的PCE3、PCE4和PCE5選項提供了完整的PCI Express 3.0、4.0和（hé）5.0基礎規（guī）範抖動測量集，幫助矽片設計人員驗證其矽片是否符合基礎規範要求。
此外，基礎（chǔ）規範要求（qiú）在發射機引腳處定義。測量計算之前，必須去嵌測試通道。可以使用Tektronix的（de）SDLA64串行（háng）數據鏈路分析軟件輕鬆創建去嵌濾波器，然後將其快速輸（shū）入到PCE3和（hé）PCE4基礎規範測量設置（zhì）中並保存以備將來使（shǐ）用。除了抖動外，PCE3和PCE4還提供了電壓、封裝（zhuāng）損耗和發射機均衡測量。
PCE3和PCE4選項利用Tektronix SDLA64軟件的信道建（jiàn）模和接（jiē）收機均衡功能來支持CEM測（cè）量。與其他（tā）解決方案不同，PCE3和PCE4選項提供了完整的（de）信號可視性，展示了嵌入符合性（xìng）信道（dào）後的信號以及應用接收機均衡後（hòu）的信號。可以設置眼圖和測（cè）量來直觀地查看信道嵌入、CTLE應用和DFE的結果。例如，在確定最佳（jiā）Rx均衡設置（CTLE設置和（hé）DFE抽頭值）時，生成的眼圖和測量顯示了後處理對采集信號的影響。然（rán）後可以在波形上進行符合性測量。
Tektronix創建了一個下一（yī）代PAM4工具，稱為PAMJET，用於Gen6基礎測量。該PAMJET工具（jù）可以配（pèi）置測量（liàng），執行Bessel Thompson濾波，配置Gen6時鍾恢複，配置CTLE，並報告結果。這些內置功能專（zhuān）為輔助Gen6基礎測試而設計（jì）。
