校準項目：包括外觀及（jí）工作正常性檢查、參考晶體振蕩器頻率、信號發（fā）生模（mó）塊（射頻輸出（chū）頻率、射頻輸出（chū）電平、諧波、非諧波（bō）、單邊帶相位噪聲、數字調製質量、占用帶寬、鄰道功率比、頻譜發射模板）、信號分析模塊（射頻功率測量、數字調製質量參數測量、占用帶寬測量、鄰道功率比（bǐ）測量、頻譜發射模板測（cè）量）和射頻端口（電壓駐波比（bǐ））等。
校準條件：確保（bǎo）環境溫度在23℃±5℃，相對濕度≤80%，供電電源穩定，並避免電磁幹擾和機械振動。
校準用設備（bèi）：使用參考頻標、頻率計數器、功率計、矢（shǐ）量信號發（fā）生（shēng）器（qì）、信號發生器、頻譜（pǔ）分析儀（yí）、測量接收機、矢量信號分析儀和網絡分析儀等專業設備進行校準。
校準方法：采用（yòng）連（lián）續波組合法或白噪聲法進行數字（zì）調製質量參數測（cè）量；使（shǐ）用功率計或測量（liàng）接收機直接測量射頻輸出電平；利用矢量信號分析儀直接測量（liàng）誤差矢量幅度（dù）等。
校準結果表（biǎo）達：校準後，出具（jù）包含實（shí）驗室信息、被校對象描述、校準日期、依據規範、測量標準溯源性、環境描述（shù）、校準結果（guǒ）及不確（què）定度說明等內容的（de）校（xiào）準證書。
複校時間間隔（gé）：推薦（jiàn）為1年，但用戶可根據使用情況自行確定複校時間間隔24。
不確定度評定：對射頻輸出頻率、射頻輸出電平、誤差矢（shǐ）量幅度和射頻功率測量等項目進行不確定度評定（dìng），確保校準結果的準（zhǔn）確性和可靠性。
