此研討會我們將討論 6G 通信技術的挑戰和解決方案。在 5G/6G 毫（háo）米（mǐ）波頻段下（xià），麵臨（lín）高傳播損耗和精密超材料操控等重（chóng）大挑戰。如（rú）何延伸現有 Sub-6 GHz 儀器，除了有效達到毫米波頻段的測試需求，並滿足 5G/6G 通信係統所需要（yào）的寬頻帶、高吞吐量以及高連結性等測試，仰賴信號源與分析（xī）儀的品質與整合度。
在多設備的環境中，高連接性也存在穩定性和效率的議（yì）題。為滿足（zú） 6G 應用中多（duō）樣的測試需求，我們提出（chū）創新的測試與量測方案，以提供高頻段、高連接性、寬頻等測試能力，並能（néng）在複雜的測試情境中，動態（tài）地適應不同場（chǎng）景和變化（huà）。安（ān）立（lì）公司與 TMYTEK 的先進「5G NR 信號生成與分析」解決方案，致力於解決這些關鍵挑戰（zhàn），為 6G 技術的發展提供了重要支持。
研討會中將探討 6G 測試與測量（liàng）解決方案在可重（chóng）構智能表麵（RIS）前沿研究中的關鍵角色（sè）。在 6G 網絡中，RIS 測試是提升信號覆（fù）蓋和網絡性能的關（guān）鍵技術。為了充分發揮 RIS 的（de）潛力，必須進行全麵的測（cè）試與測（cè）量。在（zài）本次研討會中，我們將深入探討如（rú）何利（lì）用安立公（gōng）司（sī）矢量（liàng）信號發生器 MG3710E、信號分析儀MS2850A、TMYTEK 升/降頻器 UD Box/UD Module 0620、波束賦形器 BBox One 等工具進行 RIS 測試與測量：
UD Box 5G 和 UDM-0620 實現 Sub-6 GHz 與 5G/6G 頻段間的無縫頻率轉換（6GHz-44 GHz），支持高頻寬應用。
VSG 和 VSA 提供精確的信號（hào）生成和（hé）深（shēn）入的信（xìn）號（hào）質量分析，有助於（yú）評估 RIS 的實（shí）際（jì）應用效果。
BBox 5G 係列集成關鍵的波束成形元件（jiàn），配合 TMXLAB Kit（TLK）的 GUI，允許輕鬆調整波束角度，從而優化信號質量。
RIS 的測試（shì）可以通過空口測試（OTA），在暗室中對反射信（xìn）號進行 3D 掃描，以評估其（qí）各種性能指標，如誤差向量幅度（EVM）和指向性精度。當 RIS 部署（shǔ）於蜂窩網（wǎng）絡時，其對多路（lù）徑環（huán）境的影響亦須透過覆蓋測量和信道探測進行詳細評估。除了頻譜測量，還（hái）需分析星座圖和 EVM 性能，以獲（huò）得關鍵的 RIS 性能數據。針對高頻測（cè）量挑戰的解決方案，可經（jīng）濟有效地（dì）測量指向性、增益、旁瓣和偏轉（zhuǎn）角（jiǎo）等參數，為（wéi） RIS 開發提供全麵支持。
