產品展示(shì)

KEYENCE 基(jī)恩士(shì) 形狀測量激光顯微係統 VK-X3000 係列

產品(pǐn)編號:SN202511100945218787
產品簡述:搭載白光幹涉功能納米/微(wēi)米/毫(háo)米一台即可完成測量

產品介紹

采用了三重掃描方式,運(yùn)用激光共聚焦、白光幹涉、聚焦變化等三種不同的掃(sǎo)描(miáo)原理,高倍率和低倍率,平麵、凹凸表麵的細微粗糙度,以及鏡(jìng)麵體,透明體等。VK擁有應對多種樣品的測量能力(從(cóng) 1 nm 到(dào) 50 mm),納米(mǐ)/微米/毫米一台完成測量。

產品特性

激光顯(xiǎn)微係統的基本特點

三重掃描方式
解決“難以(yǐ)測量”的難題

最高分辨(biàn)率0.01 nm

即使是納米級(jí)的微小形狀變(biàn)化也(yě)能準確測量。
此(cǐ)外,如鏡麵體、透明體等測量難度高的(de)材料也能實(shí)現(xiàn)高速、高(gāo)精度、大範圍的測量。

91污污_91视频污_香蕉91视频_91香蕉视频18