KEYENCE 基恩士（shì） 分光幹涉式晶片厚度計 SI-F80R 係列

產品簡述：采用近紅外（wài） SLD，即（jí）使已貼（tiē）附（fù） BG 帶也可測量晶片本身的厚度。即使晶片表麵存在由於圖案而（ér）產生的顯著差異，也可（kě）實現準確（què）的生產線（xiàn）上測量。