♦直觀的圖形化界麵設（shè）計，簡化了參數（shù）配置及（jí）I-V測試分析過（guò）程
♦支持從測量設置、執行到結果分析、數據管理的整個表征過（guò）程
♦針對（duì）MOSFET/BJT/Diode/Resistor提供即用型測試項，快速調用（yòng）
♦自動化測（cè）試序（xù）列功能，連續執行器件多（duō）個參數測試
♦自動生成I-V曲線（xiàn）及運行結果參數，加速曲線（xiàn）特性分析
♦多通道同步（bù）快速測試（shì）模式，最高支持32CH待測（cè）物同時在線測試
♦直觀的測試報表，將測試數據及圖表保存於（yú）數據庫並可導出excel
♦強大的（de）圖表在線分析（xī）功能，支（zhī）持曲線縮放、區域標記、切線等分析工具
♦可（kě）搭配IT2800係列SMU，分辨率最高可達100nV/10fA
即用型測試項，加速器（qì）件表征測（cè）試
SPS5000軟件具有各種強（qiáng）大的功（gōng）能，可以快速進（jìn）行測量並以圖形化方（fāng）式（shì）獲取結果。為加速半導體器件檢定測試過程，SPS5000針對常見的器件類型，例如MOSFET、二極（jí）管、BJT以及薄膜電阻配備多種即用型測試項，使用者無需進行任何的測（cè）試項開發或代碼編程，即可快速執行複雜的半導體測試。以MOSFET的Id-Vd輸出特性測試為例（lì），傳統的測試過程需要經過：定（dìng）義測試變量-----開發測試流程-----編寫測試代碼-----執行測試（shì）。而通過SPS5000軟件用（yòng）戶僅需要三個簡單的步驟，即可快速完成測試，第一（yī）步選擇（zé）即用型測試項（xiàng）Id-Vd-----第二步（bù）配置測量條件-----第三步執（zhí）行測試（shì）。
靈（líng）活提供測（cè）試序列，提升測試效率
SPS5000軟件提供（gòng）了一種靈活且高效的（de）方法，允許用戶選擇多個測試項來構建測試序列，以便對半導體器件參數（shù）指標進行連續測（cè）試，從而顯著縮短了測試時間。這（zhè）項功能適用於具備相同接線（xiàn）方式的測試項。在進行測試配置時，當您選擇其中一個測試項（xiàng），軟件會自動（dòng）顯示具有相同測試接線的其他測試項。您可以根據具體的（de）測試場景和需求（qiú），選擇一次執行單個測試項（如Id-Vd）或組合成測試序列（liè）進行連續測試（Id-Vd，Vth，IonIoffSlop），以實現半導體器件性能的（de）評估和驗證。
